主要特點：
X-Strata920 是一款簡潔、堅固和可靠的質量控制 XRF 臺式熒光系統，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。X-Strata920 可應用于常規金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業，完成單層或多層厚度測量。
主要特點包括：
? 成本低、快速、非破壞的 EDXRF 分析
? 可完成至多 4 層鍍層（另加底材）和 15 種元素的鍍層厚度測試，自動修正 X 射線重疊譜線
? 優異的多元素辨識，廣泛覆蓋元素周期表上從鈦（22 號）到鈾（92號）各元素
? 測厚行業 20 年知識和經驗的積淀
性能和標準：
使用廣受推崇的能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術, X-Strata920 可實現如下測試要求：
? 符合 ISO3497 標準測試方法：金屬鍍層—X 射線光譜法測量鍍層厚度
? 符合 ASTM B568 標準測試方法：X 射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
? 至多同時分析 25 種元素
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